Déverminage accéléré de circuits électroniques embarqués

1 module de 3 jours

Les 19, 20 et 21 mars 2019, Marseille

Les méthodes de déverminage et d’essais accélérés permettent de répondre aux exigences de qualité, de fiabilité et de déterminer la durée de vie, les cycles de vieillissement de chaque projet électronique (température, énergies, tension, vibration, mécanique, …)

L’appropriation des méthodes reste un enjeu majeur pour modéliser mathématiquement les essais et ainsi assurer la répétabilité des calculs à chaque projet électronique.

Public concerné :  Ingénieurs et techniciens en électronique des Bureaux d’Etudes, Qualité Electronique, Industrialisation de cartes électroniques

Pré-requis : Connaissance de base en conception et fabrication de circuits électroniques

Objectifs:
  • Savoir appliquer les méthodes de déverminage et de vieillissement accéléré dans toute situation de développement électronique
  • Savoir préparer et mettre en oeuvre les outils de calculs MTBF, calcul des profils de vie avec FIDES,…
  • Savoir déterminer les lots de vieillissement en faisant appel aux méthodes de fiabilité et physique des défaillances

Cette formation vise à faciliter le partage de Know-How et d’appropriation des méthodes. Des exemples concrets seront traités. Les participants peuvent également proposer leur cas d’étude électronique.

Chapitre 1 – Bases & objectifs de fiabilité

  • Densité de probabilité
  • Probabilité de défaillance
  • Fonction de survie
  • Taux de défaillance
  • Notion de MTTF et MTBF

Chapitre 2 – Différents types de pannes et leur modélisation

  • Courbe en baignoire
  • Loi exponentielle & Weibull
  • Estimation des paramètres

Chapitre 3 – Déverminage

  • Principe de base
  • Construction du déverminage
  • Suivi du déverminage*
  • Déverminage (confirmation) & fiabilité opérationnelle
  • Applications aux situations rencontrées

Chapitre 4 – Physique de défaillance et sa modélisation

  • loi d’Arrhenius, Coffin-Manson, Norris-Landzberg , Basquin, Haldberg – Peck, Eyring , Modèles GLL
  • Notion de profil de vie & méthodologie FIDES
  • Démonstration de fiabilité 0 défaillance
  • Principe théorique
  • Démonstration de probabilité de réussir une mission
  • Démonstration de MTTF , MTBF
  • Applications aux situations rencontrées

Chapitre 5 – Théorie des essais accélérés

  • Modèle AFT
  • Estimation des paramètres
  • Dimensionnement & suivi d’un essai accéléré
  • Essais à niveaux constants
  • Essais par paliers (step-Stress)
  • Applications aux situations rencontrées

Tarif : 1880 euros HT

  • Les frais d’inscription comprennent les déjeuners, les pauses, la documentation.
  • Une remise est accordée dès la 2ème inscription pour la même société (nous consulter).

Conditions d’inscription : Le dossier complet, y compris le bulletin d’inscription, est disponible sur simple demande (sans engagement) :

Un dossier de participant, contenant les informations pratiques, le plan d’accès, les possibilités d’hébergement, vous sera transmis dès réception de la convention de formation retournée signée.

Toutes nos formations sont éligibles au titre de la formation professionnelle.

  • Renseignez-vous auprès de votre OPCA (Organisme paritaire collecteur agréé)

Organisme de formation agréé n° 93 131336313

Quality Manager, ETI aéronautique : « La formation a été beaucoup appréciée par l’équipe. L’approche de la démarche et les connaissances du formateur y sont pour beaucoup. La formation nous a permis de  modéliser mathématiquement les essais que nous réalisions jusqu’à présent  d’une façon empirique et donc pouvoir appliquer la méthode d’une façon plus formelle sur de nouveaux produits. »